Impact of down scaling on high frequency noise performance of bulk and SOI MOSFETs - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2003

Impact of down scaling on high frequency noise performance of bulk and SOI MOSFETs

Gilles Dambrine
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520
C. Raynaud
M. Vanmackelberg
  • Fonction : Auteur
Francois Danneville
G. Pailloncy
  • Fonction : Auteur
Sylvie Lepilliet
J.P. Raskin
  • Fonction : Auteur

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https://hal.science/hal-00146001

Soumis le : lundi 14 mai 2007-09:34:07

Dernière modification le : mercredi 24 janvier 2024-09:54:18

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00146001 , version 1 (14-05-2007)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00146001 , version 1

Citer

Gilles Dambrine, C. Raynaud, M. Vanmackelberg, Francois Danneville, G. Pailloncy, et al.. Impact of down scaling on high frequency noise performance of bulk and SOI MOSFETs. SPIE Fluctuations and Noise Symposium, Noise in Devices and Circuits, 2003, Sante Fe, NM, United States. ⟨hal-00146001⟩

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