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Communication Dans Un Congrès Année : 2004

Using low frequency noise characterization of AlGaN/GaN HEMT as a tool for technology assessment and failure prediction 

Jean-Guy Tartarin
Geoffroy Soubercaze-Pun
  • Fonction : Auteur
Abdelali Rennane
  • Fonction : Auteur
Laurent Bary
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 941895
Jean-Claude de Jaeger
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520
Marie Germain
S. Delage
  • Fonction : Auteur
Robert Plana
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 843541
Jacques Graffeuil
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 837889

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https://hal.science/hal-00141968

Soumis le : mardi 17 avril 2007-08:50:47

Dernière modification le : mercredi 24 janvier 2024-09:54:18

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00141968 , version 1 (17-04-2007)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00141968 , version 1

Citer

Jean-Guy Tartarin, Geoffroy Soubercaze-Pun, Abdelali Rennane, Laurent Bary, Jean-Claude de Jaeger, et al.. Using low frequency noise characterization of AlGaN/GaN HEMT as a tool for technology assessment and failure prediction . 2004, pp.296-306. ⟨hal-00141968⟩

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