Article Dans Une Revue
Microelectronics Reliability
Année : 2004
Collection IEMN : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-00141958
Soumis le : mardi 17 avril 2007-08:33:52
Dernière modification le : mercredi 24 janvier 2024-09:54:18
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00141958 , version 1
Citer
A. Sozza, C. Dua, E. Morvan, B. Grimbert, Virginie Hoel, et al.. Reliability investigation of gallium nitride HEMT microelectronics reliability. Microelectronics Reliability, 2004, 44, pp.1369-1373. ⟨hal-00141958⟩
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