Conductivity of DNA probed by conducting-atomic force microscopy : effects of contact electrode, DNA stucture and surface interactions - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Journal of Applied Physics Année : 2004

Conductivity of DNA probed by conducting-atomic force microscopy : effects of contact electrode, DNA stucture and surface interactions

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Sciences de l'ingénieur [physics]
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T. Heim, D. Deresmes, Dominique Vuillaume. Conductivity of DNA probed by conducting-atomic force microscopy : effects of contact electrode, DNA stucture and surface interactions. Journal of Applied Physics, 2004, 96, pp.2927-2936. ⟨10.1063/1.1769606⟩. ⟨hal-00140730⟩

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