Caractérisation de films d'alcènes greffés sur des surfaces Si(111) par analyse XPS résolue angulairement

X. Wallart; C. Henry de Villeneuve; P. Allongue

Communication Dans Un Congrès Année : 2004

Caractérisation de films d'alcènes greffés sur des surfaces Si(111) par analyse XPS résolue angulairement

(1) , ,

1

X. Wallart

Fonction : Auteur
PersonId : 741251
IdHAL : xavier-wallart
ORCID : 0000-0002-0915-0043
IdRef : 03424879X

Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520

C. Henry de Villeneuve

Fonction : Auteur
PersonId : 750413
IdHAL : catherine-henry-de-villeneuve
ORCID : 0000-0002-8668-3070
IdRef : 185964109

P. Allongue

Fonction : Auteur

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https://hal.science/hal-00140723

Soumis le : mardi 10 avril 2007-09:19:51

Dernière modification le : mercredi 24 janvier 2024-09:54:18

Dates et versions

hal-00140723 , version 1 (10-04-2007)

Identifiants

HAL Id : hal-00140723 , version 1

Citer

X. Wallart, C. Henry de Villeneuve, P. Allongue. Caractérisation de films d'alcènes greffés sur des surfaces Si(111) par analyse XPS résolue angulairement. 2004, pp.152-157. ⟨hal-00140723⟩

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