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Caractérisation et stimulation de la susceptibilité des circuits intégrés face aux risques d'induction engendrés par des micro-ondes de fortes puissances

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https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00140410
Contributor : Collection Iemn Connect in order to contact the contributor
Submitted on : Friday, April 6, 2007 - 11:02:11 AM
Last modification on : Tuesday, October 19, 2021 - 6:37:49 PM

Identifiers

  • HAL Id : hal-00140410, version 1

Citation

S. Bazzoli. Caractérisation et stimulation de la susceptibilité des circuits intégrés face aux risques d'induction engendrés par des micro-ondes de fortes puissances. 2005. ⟨hal-00140410⟩

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