Caractérisation et stimulation de la susceptibilité des circuits intégrés face aux risques d'induction engendrés par des micro-ondes de fortes puissances - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Autre Publication Scientifique Année : 2005

Caractérisation et stimulation de la susceptibilité des circuits intégrés face aux risques d'induction engendrés par des micro-ondes de fortes puissances

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00140410 , version 1 (06-04-2007)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00140410 , version 1

Citer

S. Bazzoli. Caractérisation et stimulation de la susceptibilité des circuits intégrés face aux risques d'induction engendrés par des micro-ondes de fortes puissances. 2005. ⟨hal-00140410⟩
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