A non uniform thermal de-embedding approach for cryogenic on-wafer high frequency noise measurements - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2004

A non uniform thermal de-embedding approach for cryogenic on-wafer high frequency noise measurements

S. Delcourt
  • Fonction : Auteur
Nour Eddine Bourzgui
Sylvie Lepilliet
C. Laporte
  • Fonction : Auteur
J.P. Fraysse
  • Fonction : Auteur
M. Maignan
  • Fonction : Auteur
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00133882 , version 1 (28-02-2007)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00133882 , version 1

Citer

S. Delcourt, Gilles Dambrine, Nour Eddine Bourzgui, Sylvie Lepilliet, C. Laporte, et al.. A non uniform thermal de-embedding approach for cryogenic on-wafer high frequency noise measurements. 2004, pp.1809-1812. ⟨hal-00133882⟩
20 Consultations
0 Téléchargements

Partager

Gmail Facebook X LinkedIn More