Impact of downscaling on high-frequency noise performance of bulk and SOI MOSFETs - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue IEEE Transactions on Electron Devices Année : 2004

Impact of downscaling on high-frequency noise performance of bulk and SOI MOSFETs

G. Pailloncy
  • Fonction : Auteur
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520
C. Raynaud
M. Vanmackelberg
  • Fonction : Auteur
Francois Danneville
Sylvie Lepilliet
J.P. Raskin
  • Fonction : Auteur
Gilles Dambrine

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https://hal.science/hal-00133871

Soumis le : mercredi 28 février 2007-09:35:02

Dernière modification le : mercredi 24 janvier 2024-09:54:18

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00133871 , version 1 (28-02-2007)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00133871 , version 1

Citer

G. Pailloncy, C. Raynaud, M. Vanmackelberg, Francois Danneville, Sylvie Lepilliet, et al.. Impact of downscaling on high-frequency noise performance of bulk and SOI MOSFETs. IEEE Transactions on Electron Devices, 2004, 51, pp.1605-1612. ⟨hal-00133871⟩

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