Strong oscillations detected by picosecond ultrasonics in silicon : evidence for an electronic structure effect - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Physical Review B: Condensed Matter and Materials Physics (1998-2015) Année : 2004

Strong oscillations detected by picosecond ultrasonics in silicon : evidence for an electronic structure effect

Arnaud Devos
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520
R. Cote
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https://hal.science/hal-00133851

Soumis le : mercredi 28 février 2007-08:56:13

Dernière modification le : mercredi 24 janvier 2024-09:54:18

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Dates et versions

hal-00133851 , version 1 (28-02-2007)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00133851 , version 1

Citer

Arnaud Devos, R. Cote. Strong oscillations detected by picosecond ultrasonics in silicon : evidence for an electronic structure effect. Physical Review B: Condensed Matter and Materials Physics (1998-2015), 2004, 70, pp.125208-1-6. ⟨hal-00133851⟩

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