Article Dans Une Revue
Microelectronics Reliability
Année : 2005
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https://hal.science/hal-00128652
Soumis le : vendredi 2 février 2007-10:30:38
Dernière modification le : mercredi 24 janvier 2024-09:54:18
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00128652 , version 1
- DOI : 10.1016/j.microrel.2005.07.093
Citer
K. Yacine, F. Flourens, David Bourrier, Ludovic Salvagnac, P. Calmont, et al.. Biaxial initial stress characterization of bilayer gold RF-switches. Microelectronics Reliability, 2005, 45, pp.1776-1781. ⟨10.1016/j.microrel.2005.07.093⟩. ⟨hal-00128652⟩
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