Observateur-contrôleur pour la mesure topographique par microscopie AFM
Résumé
Une loi de commande par retour d'état combinée avec un observateur d'état sont proposés pour améliorer les mesures par Microscope à Force Atomique (AFM), notamment face au bruit thermique. Ces outils sont développés et mis en oeuvre sur un modèle dynamique de faible dimension, mais incluant les non linéarités des forces d'interaction, et les effets fortement perturbant des bruits parasites. Les résultats sont illustrés en simulation sur la base de valeurs numériques représentatives d'un AFM réel.