A 2000 hours storage test on AlGaN/GaN HEMTs for RF and microwave applications - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2005

A 2000 hours storage test on AlGaN/GaN HEMTs for RF and microwave applications

A. Sozza
  • Fonction : Auteur
C. Dua
  • Fonction : Auteur
E. Morvan
  • Fonction : Auteur
B. Grimbert
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520
S.L. Delage
  • Fonction : Auteur
E. Zanoni
  • Fonction : Auteur

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https://hal.science/hal-00126467

Soumis le : jeudi 25 janvier 2007-10:07:36

Dernière modification le : mercredi 24 janvier 2024-09:54:18

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00126467 , version 1 (25-01-2007)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00126467 , version 1

Citer

A. Sozza, C. Dua, E. Morvan, B. Grimbert, S.L. Delage, et al.. A 2000 hours storage test on AlGaN/GaN HEMTs for RF and microwave applications. 29th Workshop on Compound Semiconductor Devices and Integrated Circuits, WOCSDICE 2005, 2005, Cardiff, United Kingdom. ⟨hal-00126467⟩

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