Characterization of Materials and Multilayer Structures of Organic Solar Cell by Spectroscopic Ellipsometry - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2005

Characterization of Materials and Multilayer Structures of Organic Solar Cell by Spectroscopic Ellipsometry

C. Defranoux
  • Fonction : Auteur
Y. Guinche
  • Fonction : Auteur
F. Monestier
  • Fonction : Auteur
Institut FRESNEL
J.J. Simon
  • Fonction : Auteur
Institut FRESNEL
Ph. Torchio
Institut FRESNEL
Ludovic Escoubas
Institut FRESNEL
J.M. Nunzi
  • Fonction : Auteur

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https://hal.science/hal-00084138

Soumis le : mercredi 5 juillet 2006-17:46:17

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:47

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00084138 , version 1 (05-07-2006)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00084138 , version 1

Citer

C. Defranoux, Y. Guinche, F. Monestier, J.J. Simon, Ph. Torchio, et al.. Characterization of Materials and Multilayer Structures of Organic Solar Cell by Spectroscopic Ellipsometry. 1st Plastic Electronics Conference 2005, 2005, francfort, Germany. ⟨hal-00084138⟩

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