Structural, Electrical, Optical and Mechanical Characterization of Decorative ZrOxNy Thin Films - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Journal of Applied Physics Année : 2005

Structural, Electrical, Optical and Mechanical Characterization of Decorative ZrOxNy Thin Films

P. Carvalho
  • Fonction : Auteur
F. Vaz
  • Fonction : Auteur
L. Cunha
  • Fonction : Auteur
L. Rebouta
  • Fonction : Auteur
Tavares C.J.
  • Fonction : Auteur
C. Moura
  • Fonction : Auteur
E. Alves
  • Fonction : Auteur
A. Cavaleiro
  • Fonction : Auteur
Eric Le Bourhis
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 1078770
Pierson J. F.
O. Banakh
  • Fonction : Auteur
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00016716 , version 1 (10-01-2006)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00016716 , version 1

Citer

P. Carvalho, F. Vaz, L. Cunha, L. Rebouta, Tavares C.J., et al.. Structural, Electrical, Optical and Mechanical Characterization of Decorative ZrOxNy Thin Films. Journal of Applied Physics, 2005, 98, pp.1-8. ⟨hal-00016716⟩

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