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5 résultats
keyword_s : Plasmon
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Depth profiling of noble gas atoms implanted in Al matrix: A photoelectron energy loss spectroscopy study

 Christian Godet , Victor Santana , Denis G.F. David
Thin Solid Films, 2018, 659, pp.70 - 80. ⟨10.1016/j.tsf.2018.05.038⟩
Article dans une revue hal-01803578v1
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Quantitative analysis of plasmon excitations in hard x-ray photoelectron spectra of bulk black phosphorus

 Denis G.F. David , Christian Godet , Fredrik O.L. Johansson , Andreas Lindblad
Applied Surface Science, 2020, 505, pp.144385. ⟨10.1016/j.apsusc.2019.144385⟩
Article dans une revue hal-02337909v1
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Sensitivity of photoelectron energy loss spectroscopy to surface reconstruction of microcrystalline diamond films

 Denis G.F. David , Marie-Amandine Pinault-Thaury , Dominique Ballutaud , Christian Godet
Applied Surface Science, 2013, 273, pp.607-612. ⟨10.1016/J.APSUSC.2013.02.087⟩
Article dans une revue hal-00832611v1

Bulk and surface plasmon excitations in amorphous carbon measured by core-level photoelectron spectroscopy

 Christian Godet , Denis David , Hussein Sabbah , Soraya Ababou-Girard , Francine Solal
Applied Surface Science, 2009, 255 (13-14), pp.6598-6606. ⟨10.1016/J.APSUSC.2009.02.050⟩
Article dans une revue hal-00663692v1
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Derivation of the near-surface dielectric function of amorphous silicon from photoelectron loss spectra

 Denis David , Christian Godet , Hussein Sabbah , Soraya Ababou-Girard , Francine Solal , et al.
Journal of Non-Crystalline Solids, 2012, 358 (17), pp.2019-2022. ⟨10.1016/j.jnoncrysol.2012.01.026⟩
Article dans une revue hal-00673857v1
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