Recherche - Institut Camille Jordan

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		Semaine d'Etude Mathématiques et Entreprises 6 : Analyse statistique des défauts en électronique analogique Julien Fageot , Morgane Henry , Alexis Huet , Gildas Mazo , Stéphane Veys 2013 Pré-publication, Document de travail hal-00933235v1	Envoyer sur ORCID Exporter BibTeX XML-TEI Dublin Core DC Terms EndNote DataCite Export avancé Partager Gmail Facebook X LinkedIn More

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