Université de Provence - Aix-Marseille I
Hyper Articles en Ligne
Accueil
Consultation
Derniers dépôts
Par type de document
Par année
Par discipline
Par auteur
Liste totale
Recherche
Recherche simple
Recherche avancée
Recherche par identifiant
Services
Créer une page web
Export d'une liste de publications
4453 articles – 13148 Notices
[english version]
.:.
Consultation
>
Par auteur
> Schoen .:.
8 documents classés par :
Date
Titre
Nom du premier auteur
Type de documents
Date de dépôt
Second harmonic generation enhancement in isolated metal nano-apertures
Schoen P., Rigneault H., Wenger J., Brasselet S.
SPIE Photonic West BiOS
, États-Unis (2010) [hal-00459737 - version 1]
Enhanced Second Harmonic Generation from individual metallic nano-apertures
Schoen P., Bonod N., Devaux E., Wenger J., Rigneault H., Ebbesen T.W., Brasselet S.
Optics Letters
35
, 23 (2010) 4063-4065 [hal-00540510 - version 1]
Polarization and Phase Pulse Shaping applied to nonlinear tensorial structure read-out
Schoen P., Behrndt M., Ait-Belkacem D., Rigneault H., Brasselet S.
Dans
SPIE Photonic West BiOS
-
SPIE Photonic West BiOS
, États-Unis (2010) [hal-00459733 - version 1]
Polarization and Phase Pulse Shaping applied to Structural Contrast in Nonlinear Microscopy Imaging
Schoen P., Behrndt M., Ait-Belkacem D., Rigneault H., Brasselet S.
Phys Rev A
81
(2010) 013809 [hal-00459731 - version 1]
Polarization and Phase Pulse Shaping in Nonlinear Microscopy
Brasselet S., Schoen P., Rigneault H.
MicroCARS 2009 - Raman and CARS microscopy
, France (2009) [hal-00438962 - version 1]
Polarization and Phase Pulse Shaping applied to Structural Contrast in Nonlinear Microscopy Imaging
Brasselet S., Schoen P., Rigneault H.
4th EOS topical meeting on advanced imaging techniques
, Allemagne (2009) [hal-00438951 - version 1]
Nonlinear SHG enhancement in isolated metal nano-apertures
Brasselet S., Schoen P., Rigneault H.
EOS Annual Meeting
, France (2008) [hal-00438976 - version 1]
Polarization distortion effects in polarimetric two-photon microscopy
Schoen P., Munhoz F., Gasecka A., Brustlein S., Rigneault H., Brasselet S.
Optics express
16
, 25 (2008) 20891-20901 [hal-00437135 - version 1]