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Ellipsometry of reflected and scattered fields for the analysis of substrates optical quality Deumie C., Georges G., Gilbert O., Arnaud L., Amra C. Applied Optics 45 (2006) 1640 [hal-00081400 - version 1]

Angle resolved ellipsometry of scattering patterns from arbitrary surfaces and bulks Gilbert O., Deumie C., Amra C. Optics express 13 (2005) 2403 [hal-00082249 - version 1]

Elimination of polarized light scattered by surface roughness or bulk heterogeneity Amra C., Deumie C., Gilbert O. Optics express 13 (2005) 10854 [hal-00082247 - version 1]

Sondage optique par ellipsométrie sur flux diffusé Deumie C., Georges G., Arnaud L., Gilbert O., Amra C. Contrôles et Mesures Optiques pour l'Industrie, France (2005) [hal-00081414 - version 1]

Ellipsometry of scattering patterns from optical inhomogeneities Deumie C., Georges G., Gilbert O., Amra C. Dans Proc. SPIE Vol. 5965, Optical Fabrication, Testing, and Metrology II - (2005) [hal-00081406 - version 1]

Angular phase measurement of polarized scattering Deumie C., Gilbert O., Amra C. Optical Interference Coating, États-Unis (2004) [hal-00082320 - version 1]

Analyse ellipsométrique de la diffusion angulaire par les surfaces, volumes, composants multicouches Deumie C., Gilbert O., Amra C. Journées imagerie polarimétrique, France (2004) [hal-00082318 - version 1]

Light scattering of the scattered field for the analysis of microelectronics patterns Deumie C., Gilbert O., Amra C. Workshop Scatterometry, France (2004) [hal-00082263 - version 1]

High-angle resolved scattering for detection and discremination of bulks and surfaces Deumie C., Gilbert O., Amra C. Optical Interference Coating, Canada (2001) [hal-00082310 - version 1]

Etude de la diffusion lumineuse à haute résolution angulaire : application à la discrimination des rugosités et hétérogénéités, à la caractérisation du degré de perturbation des échantillons Deumie C., Gilbert O., Amra C. Colloque Mesures Optiques pour l'Industrie, France (2001) [hal-00082309 - version 1]