4452 articles – 13148 references  [version française]
HAL: hal-00082428, version 1

Detailed view  Export this paper
Annual meeting of SPIE, Advanced Characterization Techniques for Optics, Semiconductors, and Nanotechnologies, San Diego : États-Unis (2003)
Photothermal microscopy and laser damage in optical components
Mireille Commandre 1, Jean-Yves Natoli 1, Claude Amra 1, Annelise During 1, Laurent Gallais 1
(2003)
1:  Institut FRESNEL (IF)
CNRS : UMR6133 – Université de Provence - Aix-Marseille I – Université Paul Cézanne - Aix-Marseille III – Ecole Centrale de Marseille
Physics/Physics/Optics