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INPI N°10/00246 (22/01/2010) -
Méthode pour la formation d'une image de phase en microscopie et dispositif pour la mise en œuvre de ladite méthode
David Gachet 1, Hervé Rigneault 1
(2010-01-22)

L'invention concerne un dispositif pour la formation d'une image de phase d'un échantillon, l'échantillon comprenant un objet de phase et un milieu environnant formant une interface, le dispositif comprenant : - une source d'émission d'un faisceau sonde incident sur l'échantillon selon un axe optique, et interceptant ladite interface entre l'objet de phase et le milieu environnant, - des moyens d'analyse de la déviation angulaire du faisceau sonde transmis, résultant de l'interaction avec l'échantillon, permettant d'obtenir à une interface axiale de l'objet de phase et un milieu environnant un signal caractéristique du déphasage à l'interface entre l'objet de phase et le milieu environnant.
1:  Institut FRESNEL (IF)
CNRS : UMR6133 – Université de Provence - Aix-Marseille I – Université Paul Cézanne - Aix-Marseille III – Ecole Centrale de Marseille
Physics/Physics/Optics