| Titre : |
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Analyse de composants photoniques par réflectométrie à faible cohérence sensible à la phase |
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| Auteur(s) : |
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Carlos Alberto Palavicini Cham 1 |
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| Laboratoire : |
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| Résumé : |
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L'émergence des amplificateurs à fibre et l'inévitable accroissement du débit ont drastiquement augmenté la complexité des systèmes de transmission optiques, imposant une évolution des composants photoniques. Des techniques de caractérisation fiables et précises sont alors indispensables pour mener une analyse appropriée des caractéristiques et des performances desdits composants. La réflectométrie à faible cohérence sensible à la phase est une technique bien adaptée à la détection, localisation et quantification des discontinuités d'indice dans les composants optiques et photoniques. Dans le cadre de cette thèse, elle a été appliquée à l'analyse de différents composants photoniques innovants, tels que les réseaux de Bragg à fibre, les fibres optiques spéciales et les lasers à semi-conducteurs soumis à une injection optique. Les résultats obtenus situent cette technique comme un véritable outil d'investigation qui s'avère très performant pour l'assistance et l'aide à la conception des nouvelles générations de composants photoniques. |
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| Type de document : |
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Thèses |
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| Sujet : |
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Sciences et technologies de l'information et de la communication |
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| Date de soutenance : |
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2004 |
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| Fonds : |
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Télécom ParisTech |
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| Organisme de délivrance : |
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Télécom ParisTech |
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| École doctorale : |
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Informatique, télécommunications et électronique (EDITE) - ED 130 |
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| Spécialité : |
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Electronique et Communications |
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| Autre localisation : |
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http://www.comelec.enst.fr/~palavici/PhD/These_Palavicini_ENST.pdf |
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| Directeur de thèse : |
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Yves Jaouën |
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| Composition du Jury : |
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René-Paul Salathé
Christian Boisrobert
Pierre Niay
Anne-Françoise Obaton
Pierre Sansonetti
Elchuri Rao |
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| Mots-clés : |
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Réflectométrie à faible cohérence – Techniques de caractérisation – Composants photoniques – réseaux de Bragg – Lasers à fibre – Fibres optiques spéciales – Fibres microstructurées – Lasers à semi-conducteurs – Injection optique – Optical low-coherence reflectometry |
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