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Combined use of Raman and ToF-SIMS imaging to investigate lead speciation on vegetable leaves exposed to industrial particles Schreck E., Uzu G., Moreau M., Nuns N., Dumat C., Barbillat J., Sobanska S. 37th International Symposium on Environmental Analytical Chemistry, Belgium (2012) [hal-00779392 - version 1]

Les rayons X comme sonde pour la localisation et la spéciation des métaux et métalloïdes dans les systèmes naturels Sarret G., Isaure M.P., Montes Hernandez G., Hellmann R., Menguy N., Manceau A., Uzu G., Sobanska S., Dumat C., Harada E. et al 9ème édition Rayons X et Matière, France (2011) [hal-00779380 - version 1]