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| HAL : hal-00327149, version 1 |
| DOI : 10.1109/TNS.2007.910171 |
| Fiche détaillée |  Récupérer au format |
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| IEEE Transactions on Nuclear Science 54, 6 (2007) 2272-2275 |
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| Study of the thermal behavior of the OSL integrated sensor response |
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| P. Garcia 1J.-R. Vaillé 1 |
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| (12/2007) |
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| Temperature irradiation is shown to cause the fading of the OSL signal. The temperature dependence is modeled using an Arrhenius law. A simple method is proposed to correct this effect a posteriori. |
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| 1 : | Institut d'Electronique du Sud (IES) |
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CNRS : UMR5214 – Université Montpellier II - Sciences et techniques |
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| 2 : | Techniques of Informatics and Microelectronics for integrated systems Architecture (TIMA) |
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CNRS : UMR5159 – Université Joseph Fourier - Grenoble I – Institut National Polytechnique de Grenoble (INPG) |
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| Domaine | : | Sciences de l'ingénieur/Electronique |
| hal-00327149, version 1 | |
| http://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00327149 | |
| oai:hal.archives-ouvertes.fr:hal-00327149 | |
| Contributeur : Dauverchain Eric | |
| Soumis le : Mardi 7 Octobre 2008, 15:06:38 | |
| Dernière modification le : Jeudi 9 Octobre 2008, 09:23:56 | |
