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fulltext access ETUDE DU COMPORTEMENT DE BATTERIES AU PLOMB EN CONDITIONS EXTREMES : CHARGE RAPIDE, MAINTIEN EN CHARGE PAR FAIBLE COURANT IMPOSE, INVERSIONS DE POLARITE INTRODUCTION DE PROCEDES DE CHARGE ATYPIQUES
Nguyen T. M. P.
Université Montpellier II - Sciences et Techniques du Languedoc (05/06/2009), Christian GLAIZE (Dir.) [tel-00443615 - version 1]
Mismatch Measure Improvement Using Kelvin Test Structures in Transistor Pair Configuration in Sub-Hundred Nanometer MOSFET Technology
M. Mezzomo C., Marin M., Leyris C., Ghibaudo G.
Dans Proceedings of ICMTS, ISBN 978-1-4244-4259-1, IEEE - IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures, États-Unis (2009) [hal-00603793 - version 1]
Pockets engineering impact on mismatch performance on 45nm MOSFET technologies
M. Mezzomo C., Leyris C., Josse E., Ghibaudo G.
Dans Proceedings of ULIS 2009, IEEE - Int. Conference on Ultimate Integration of Silicon, Aachen, Allemagne (2009) [hal-00604235 - version 1]
Near-field wire-based passive probe antenna for the selective detection of the longitudinal electric field at THz frequencies
Adam R., Chusseau L., Grosjean T., Penarier A., Guillet J.-P., Charraut D.
Journal of Applied Physics 106, 7 (2009) 073107 [hal-00446937 - version 1]
fulltext access Neutron Detection through an SRAM-Based Test Bench
Dilillo L., Wrobel F., Galliere J.-M., Saigne F.
IWASI'09: International Workshop On Advances in Sensors and Interfaces, Italie (2009) [lirmm-00438842 - version 1]
Linear to radial polarization conversion in the THz domain using a passive system
Grosjean T., Baida F.I., Adam R., Guillet J.-P., Billot L., Nouvel P., Torres J., Penarier A., Charraut D., Chusseau L.
Optics express 16, 23 (2008) 18895-18909 [hal-00347781 - version 1]
Near-field electromagnetic characterization and perturbation of logic circuits
Dubois T., Jarrix S., Pénarier A., Nouvel P., Gasquet D., Chusseau L., Azaïs B.
IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement 57, 11 (2008) 2398-2404 [hal-00329821 - version 1]
Impact des pertes diélectriques de matériaux à très faible permittivité sur les performances des interconnexions de circuits intégrés
Gallitre M., Blampey B., Lacrevaz T., Farcy A., Bermond C., Fléchet B., Sbrugnera V., Vo T.T., Arnal V., Torres J.
Dans x - 10èmes Journées de Caractérisation Microondes et Matériaux, France (2008) [hal-00398597 - version 1]
fulltext access Single Phase AC Power Consumption Profile Emulator
Thiaux Y., Seigneurbieux J., Multon B., Ben Ahmed H., Miller D.
Dans Proceeding ICREPQ 2008 - ICREPQ 2008, Espagne (2008) [hal-00676141 - version 1]
First evidence of dielectric loss effects with ultra low-k materials and impact on interconnect propagation performance
Gallitre M., Blampey B., Fléchet B., Farcy A., Arnal V., Bermond C., Lacrevaz T., Sbugnera V., Hamioud K., Aimadeddine M. et al
Dans x - Materials for Advanced Metallization Conf, France (2008) [hal-00397857 - version 1]