Article Dans Une Revue
Applied Physics Letters
Année : 2015
Georges Bremond : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-02073148
Soumis le : mardi 19 mars 2019-16:22:04
Dernière modification le : vendredi 1 mars 2024-18:20:03
Citer
L. Wang, J. Laurent, J. Chauveau, V. Sallet, F. Jomard, et al.. Nanoscale calibration of n-type ZnO staircase structures by scanning capacitance microscopy. Applied Physics Letters, 2015, 107 (19), pp.192101. ⟨10.1063/1.4935349⟩. ⟨hal-02073148⟩
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