Article Dans Une Revue
physica status solidi (c)
Année : 2016
Georges Bremond : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-02073118
Soumis le : mardi 19 mars 2019-16:10:39
Dernière modification le : jeudi 11 avril 2024-13:08:12
Citer
Lin Wang, Sophie Guillemin, Jean-Michel Chauveau, Vincent Sallet, François Jomard, et al.. Characterization of carrier concentration in ZnO nanowires by scanning capacitance microscopy. physica status solidi (c), 2016, 13 (7-9), pp.576-580. ⟨10.1002/pssc.201510268⟩. ⟨hal-02073118⟩
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