Article Dans Une Revue
Pattern Recognition
Année : 2008
Fabrice Mairesse : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-00771253
Soumis le : mardi 8 janvier 2013-11:47:46
Dernière modification le : jeudi 7 septembre 2023-16:08:10
Citer
Fabrice Mairesse, Tadeusz Sliwa, Stéphane Binczak, Yvon Voisin. Subpixel determination of imperfect circles characteristics. Pattern Recognition, 2008, 41 (1), pp.250-271. ⟨10.1016/j.patcog.2007.03.010⟩. ⟨hal-00771253⟩
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