Characterization of graphite implanted with chlorine ions using combined Raman microspectrometry and transmission electron microscopy on thin sections prepared by focused ion beam

M.R. Ammar; J.N. Rouzaud; C.E. Vaudey; N. Toulhoat; N. Moncoffre

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Carbon 48 (2010) 1244-1251

Characterization of graphite implanted with chlorine ions using combined Raman microspectrometry and transmission electron microscopy on thin sections prepared by focused ion beam

M.R. Ammar (

) ¹, J.N. Rouzaud ², C.E. Vaudey ³, N. Toulhoat ^3, 4, N. Moncoffre ³

(2010)

1 :	Conditions Extrêmes et Matériaux : Haute Température et Irradiation (CEMHTI)

	CNRS : UPR3079 – Université d'Orléans

2 :	Laboratoire de géologie de l'ENS (LGE)

	CNRS : UMR8538 – INSU – Ecole normale supérieure de Paris - ENS Paris

3 :	Institut de Physique Nucléaire de Lyon (IPNL)

	CNRS : UMR5822 – IN2P3 – Université Claude Bernard - Lyon I

4 :	CEA-Direction de l'Energie Nucléaire (CEA-DEN)

	CEA

Domaine

Chimie/Matériaux


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Contributeur : Mohamed Ramzi Ammar <>
Soumis le : Jeudi 15 Novembre 2012, 17:34:20
Dernière modification le : Jeudi 15 Novembre 2012, 17:34:20