Technique de Caractérisation sur puce de Circuits N-ports en utilisant un VNA à deux accès

Yamen Jaballi (1) , Sébastien Quintanel (1) , Emmanuelle Bourdel (1) , Daniel Pasquet (2) , Jean-Luc Gautier (1) , Cédric Duperrier (1)

1 ETIS - UMR 8051 - Equipes Traitement de l'Information et Systèmes
2 LaMIPS - Laboratoire de Microélectronique et de Physique des Semiconducteurs

Dans cet article une méthode simple et pratique de caractérisation sur puce des circuits passifs à N ports en utilisant un analyseur de réseau vectoriel à deux accès est présentée. Elle permet de retrouver les paramètres S d'un circuit à plusieurs ports dans ses plans de références. En laissant les N-2 ports chargés par un circuit-ouvert, elle permet de réduire les coûts en termes de surface de wafer et d'équipements. Cette technique est appliquée à la caractérisation d'un coupleur Branchline fonctionnant aux fréquences millimétriques.

Domaines: Electronique

Yamen Jaballi, Sébastien Quintanel, Emmanuelle Bourdel, Daniel Pasquet, Jean-Luc Gautier, et al.. Technique de Caractérisation sur puce de Circuits N-ports en utilisant un VNA à deux accès. 17èmes Journées Nationales Microondes BREST 2011, May 2011, Brest, France. pp.6B-3. ⟨hal-00670829⟩