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International Conference on Frontiers of Characterization and Metrology for Nanoelectronics, Grenoble : France (2011)
Investigation of Surface Potential on CdTe/CdS p-n Heterojunction with Kelvin Probe Force Microscopy
L. You, N. Chevalier, S. Bernardi, E. Martinez, D. Mariolle, G. Feuillet, M. Kogelschatz 1, G. Bremond 2, A. Chabli, F. Bertin
(23/05/2011)
1 :  Laboratoire des technologies de la microélectronique (LTM)
CNRS : UMR5129 – Université Joseph Fourier - Grenoble I
2 :  Institut des nanotechnologies de Lyon - Site d'Ecully (INL)
CNRS : UMR5270 – Université Claude Bernard - Lyon I – Institut National des Sciences Appliquées (INSA) - Lyon – Ecole Centrale de Lyon

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