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| HAL : hal-00604484, version 1 |
| Fiche détaillée |  Récupérer au format |
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| IEEE RFIC Symp, Anaheim : France (2010) |
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| "DC Hot Carrier Stress Effect on CMOS 65nm 60 GHz Power Amplifiers", |
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| T. QuémeraisL. Moquillon |
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| (2010) |
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| 1 : | Laboratoire de Génie Electrique de Grenoble (G2ELab) |
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CNRS : UMR5269 – Université Joseph Fourier - Grenoble I – Institut Polytechnique de Grenoble - Grenoble Institute of Technology |
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| 2 : | Institut de Microélectronique, Electromagnétisme et Photonique - Laboratoire d'Hyperfréquences et Caractérisation (IMEP-LAHC) |
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Institut National Polytechnique de Grenoble (INPG) – Université Joseph Fourier - Grenoble I – CNRS : UMR5130 – Université de Savoie |
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| Domaine | : | Sciences de l'ingénieur/Micro et nanotechnologies/Microélectronique |
| hal-00604484, version 1 | |
| http://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00604484 | |
| oai:hal.archives-ouvertes.fr:hal-00604484 | |
| Contributeur : Chahla Domenget | |
| Soumis le : Mercredi 29 Juin 2011, 10:26:11 | |
| Dernière modification le : Mercredi 29 Juin 2011, 10:26:11 | |
