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| HAL : hal-00596081, version 1 |
| Fiche détaillée |  Récupérer au format |
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| IEEE Transactions on Electron Devices 56, 10 (2009) 2186-2192 |
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| Three-Dimensional Real-Space Simulation of Surface Roughness in Silicon Nanowire FETs |
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| C. Buran 1M.G. Pala 1 |
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| (01/10/2009) |
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| 1 : | Institut de Microélectronique, Electromagnétisme et Photonique - Laboratoire d'Hyperfréquences et Caractérisation (IMEP-LAHC) |
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Institut National Polytechnique de Grenoble (INPG) – Université Joseph Fourier - Grenoble I – CNRS : UMR5130 – Université de Savoie |
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| 2 : | Techniques of Informatics and Microelectronics for integrated systems Architecture (TIMA) |
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CNRS : UMR5159 – Université Joseph Fourier - Grenoble I – Institut National Polytechnique de Grenoble (INPG) |
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| Domaine | : | Physique/Matière Condensée/Autre Sciences de l'ingénieur/Micro et nanotechnologies/Microélectronique |
| hal-00596081, version 1 | |
| http://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00596081 | |
| oai:hal.archives-ouvertes.fr:hal-00596081 | |
| Contributeur : Chahla Domenget | |
| Soumis le : Jeudi 26 Mai 2011, 14:39:25 | |
| Dernière modification le : Dimanche 10 Février 2013, 23:00:29 | |
