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| HAL : hal-00417840, version 1 |
| Fiche détaillée |  Récupérer au format |
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| 14th IEEE European Test Symposium (ETS'09), Sevilla : Espagne (2009) |
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| A Methodology to Evaluate Transient-Fault Effects on Asynchronous and Synchronous Circuits |
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| R. Possamai Bastos 1Y. Monnet 1 |
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| (25/05/2009) |
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| 1 : | Techniques of Informatics and Microelectronics for integrated systems Architecture (TIMA) |
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CNRS : UMR5159 – Université Joseph Fourier - Grenoble I – Institut National Polytechnique de Grenoble (INPG) |
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| 2 : | Fed. Univ. of Rio Grande do Sul (FED. UNIV. OF RIO GRANDE DO SUL) |
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Fed. Univ. of Rio Grande do Sul |
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| Domaine | : | Sciences de l'ingénieur/Micro et nanotechnologies/Microélectronique |
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| transient fault |
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| hal-00417840, version 1 | |
| http://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00417840 | |
| oai:hal.archives-ouvertes.fr:hal-00417840 | |
| Contributeur : Lucie Torella | |
| Soumis le : Jeudi 17 Septembre 2009, 10:28:51 | |
| Dernière modification le : Jeudi 17 Septembre 2009, 10:28:51 | |
