 |
|
|
|
| HAL : hal-00398047, version 1 |
| Fiche détaillée |  Récupérer au format |
|
|
| Latin America Test Workshop, Buzios : Brésil (2009) |
|
|
|
|
| Failure mechanisms in deep sub-micron technologies |
|
|
| Vincent Pouget 1 |
|
|
| (2009) |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
| 1 : | Laboratoire de l'intégration, du matériau au système (IMS) |
|
|
|
CNRS : UMR5218 – Université Sciences et Technologies - Bordeaux I – Institut Polytechnique de Bordeaux |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
| Domaine | : | Sciences de l'ingénieur/Electronique |
| hal-00398047, version 1 | |
| http://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00398047 | |
| oai:hal.archives-ouvertes.fr:hal-00398047 | |
| Contributeur : Frédéric Darracq | |
| Soumis le : Mercredi 24 Juin 2009, 10:49:15 | |
| Dernière modification le : Mercredi 24 Juin 2009, 10:49:15 | |
