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HAL : hal-00397854, version 1

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9th European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems (RADECS), Deauville : France (2007)
Highlights of Laser Testing Capabilities Regarding the Understanding of SEE in SRAM-based FPGA
A. Bocquillon 1, G. Foucard 2, F. Miller 1, Nadine Buard 1, R. Leveugle 2, C. Daniel 1, S. Rakers, T. Carriere 1, Vincent Pouget 3, R. Velazco 2
(2007)
1 :  EADS, Corporate Research Center
EADS Paris
2 :  Techniques of Informatics and Microelectronics for integrated systems Architecture (TIMA)
CNRS : UMR5159 – Université Joseph Fourier - Grenoble I – Institut National Polytechnique de Grenoble (INPG)
3 :  Laboratoire de l'intégration, du matériau au système (IMS)
CNRS : UMR5218 – Université Sciences et Technologies - Bordeaux I – Institut Polytechnique de Bordeaux
Sciences de l'ingénieur/Electronique

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