déposer
version française rss feed
HAL : hal-00388330, version 1

Fiche détaillée  Récupérer au format
14ème Journées Nationales Microondes (JNM'05), Nantes : France (2005)
Test orienté défaut pour les circuits radio fréquences
R. Kheriji 1, V. Danelon 1, J.L. Carbonero 1, S. Mir 2
(2005)
1 :  ST Microelectronics (ST Microelectronics, Crolles)
ST microelectronics
2 :  Techniques of Informatics and Microelectronics for integrated systems Architecture (TIMA)
CNRS : UMR5159 – Université Joseph Fourier - Grenoble I – Institut National Polytechnique de Grenoble (INPG)
Sciences de l'ingénieur/Micro et nanotechnologies/Microélectronique
circuit-analysis

tous les articles de la base du CCSd...
tous les articles de la base du CCSd...
tous les articles de la base du CCSd...
tous les articles de la base du CCSd...
tous les articles de la base du CCSd...
tous les articles de la base du CCSd...
tous les articles de la base du CCSd...
tous les articles de la base du CCSd...
tous les articles de la base du CCSd...
tous les articles de la base du CCSd...
tous les articles de la base du CCSd...
tous les articles de la base du CCSd...
tous les articles de la base du CCSd...
tous les articles de la base du CCSd...
tous les articles de la base du CCSd...
tous les articles de la base du CCSd...
tous les articles de la base du CCSd...
tous les articles de la base du CCSd...
tous les articles de la base du CCSd...
tous les articles de la base du CCSd...
tous les articles de la base du CCSd...
tous les articles de la base du CCSd...
tous les articles de la base du CCSd...