Communication Dans Un Congrès
Année : 2005
Danielle Chaslard : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-00125157
Soumis le : jeudi 18 janvier 2007-10:57:45
Dernière modification le : jeudi 11 avril 2024-13:08:12
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00125157 , version 1
Citer
M. Vila, F. Jimenez-Villacorta, C. Prieto, A. Traverse. EXAFS characterization of nickel clusters in Ni/Si3N4 sputtered thin films. 2005, Vol. T-115, p. 454. ⟨hal-00125157⟩
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