HAL : hal-00008188, version 1

DOI : 10.1109/TNS.2003.821824

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IEEE-Transactions-on-Nuclear-Science Volume: 50 , Issue: 6 , Part 1 (2003) 2101 - 2106

Impact of data cache memory on the single event upset-induced error rate of microprocessors

F. Faure 1, R. Velazco 2, M. Violante 2, M. Rebaudengo 2, M.S. Reorda 2

(2003)

Cache memories embedded in most of complex processors significantly contribute to the global single event upset-induced error rate. Three different approaches allowing the study of this contribution by fault injection are investigated in this paper.

1 :	CNR (IST. DI ASTROFISICA SPAZIALE E FISICA COSMICA)
	Ist. di Astrofisica Spaziale e Fisica Cosmica
2 :	Techniques of Informatics and Microelectronics for integrated systems Architecture (TIMA)
	CNRS : UMR5159 – Université Joseph Fourier - Grenoble I – Institut National Polytechnique de Grenoble (INPG)

Domaine

:

Sciences de l'ingénieur/Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Mots Clés : data-cache-memory – single-event-upset-induced-error-rate – microprocessors-

hal-00008188, version 1

http://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00008188

oai:hal.archives-ouvertes.fr:hal-00008188

Contributeur : Lucie Torella <>

Soumis le : Mercredi 24 Août 2005, 15:33:11

Dernière modification le : Mercredi 24 Août 2005, 15:33:11