Publications HAL de Antoun du labo/EPI GREMI

2023

auteur
Rémi Dussart, R. Ettouri, J. Nos, G. Antoun, T. Tillocher, P. Lefaucheux
titre
Cryogenic etching of silicon compounds using a CHF 3 based plasma
article
Journal of Applied Physics, 2023, 133 (11), pp.113306. ⟨10.1063/5.0142056⟩
DOI
DOI : 10.1063/5.0142056
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https://hal.science/hal-04038959/file/JAP23-AR-00119.pdf BibTex

2022

auteur
Gaelle Antoun, Thomas Tillocher, Aurélie Girard, Philippe Lefaucheux, J. Faguet, H. Kim, D. Zhang, M. Wang, K. Maekawa, Christophe Cardinaud, Rémi Dussart
titre
Cryogenic nanoscale etching of silicon nitride selectively to silicon by alternating SiF 4 /O 2 and Ar plasmas
article
Journal of Vacuum Science & Technology A, 2022, 40 (5), pp.052601. ⟨10.1116/6.0001885⟩
DOI
DOI : 10.1116/6.0001885
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https://hal.science/hal-03772077/file/JVA22-AR-00139_accepted-1.pdf BibTex
auteur
G. Antoun, A. Girard, T. Tillocher, P. Lefaucheux, J. Faguet, K. Maekawa, C. Cardinaud, R. Dussart
titre
Quasi In Situ XPS on a SiO x F y Layer Deposited on Silicon by a Cryogenic Process
article
ECS Journal of Solid State Science and Technology, 2022, 11 (1), pp.013013. ⟨10.1149/2162-8777/ac4c7d⟩
DOI
DOI : 10.1149/2162-8777/ac4c7d
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https://hal.science/hal-03565995/file/Rev2bis-ECS-Quasi%20in%20situ%20XPS%20on%20a%20SiOxFy%20layer%20deposited%20on%20Silicon%20by%20a%20cryogenic%20process_final-1.pdf BibTex

2021

auteur
Gaelle Antoun, Thomas Tillocher, Philippe Lefaucheux, Jacques Faguet, Kaoru Maekawa, Rémi Dussart
titre
Mechanism understanding in cryo atomic layer etching of SiO2 based upon C4F8 physisorption
article
Scientific Reports, 2021, 11 (1), pp.357. ⟨10.1038/s41598-020-79560-z⟩
DOI
DOI : 10.1038/s41598-020-79560-z
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auteur
Thomas Tillocher, Jack Nos, Gaëlle Antoun, Philippe Lefaucheux, Mohamed Boufnichel, Rémi Dussart
titre
Comparison between Bosch and STiGer Processes for Deep Silicon Etching
article
Micromachines, 2021, 12 (10), pp.1143. ⟨10.3390/mi12101143⟩
DOI
DOI : 10.3390/mi12101143
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2019

auteur
Gaelle Antoun, Philippe Lefaucheux, Thomas Tillocher, Rémi Dussart, Kumiko Yamazaki, Koichi Yatsuda, Jacques Faguet, Kaoru Maekawa
titre
Cryo atomic layer etching of SiO 2 by C F8 physisorption followed by Ar plasma
article
Applied Physics Letters, 2019, 115 (15), pp.153109. ⟨10.1063/1.5119033⟩
DOI
DOI : 10.1063/1.5119033
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auteur
Gaelle Antoun, Rémi Dussart, Thomas Tillocher, Philippe Lefaucheux, Christophe Cardinaud, Aurélie Girard, Shigeru Tahara, Kumiko Yamazaki, Koichi Yatsuda, Jacques Faguet, Kaoru Maekawa
titre
The role of physisorption in the cryogenic etching process of silicon
article
Japanese Journal of Applied Physics, 2019, 58 (SE), pp.SEEB03. ⟨10.7567/1347-4065/ab1639⟩
DOI
DOI : 10.7567/1347-4065/ab1639
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