Publications HAL de Dussart du labo/EPI GREMI

2020

auteur
Sebastian Dzikowski, Ronan Michaud, Henrik Böttner, Rémi Dussart, Marc Böke, Volker Schulz-von Der Gathen
titre
Modular constructed metal-grid arrays—an alternative to silicon-based microplasma devices for catalytic applications
article
Plasma Sources Science and Technology, 2020, 29 (3), pp.035028. ⟨10.1088/1361-6595/ab71f6⟩
DOI
DOI : 10.1088/1361-6595/ab71f6
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2019

auteur
Gaelle Antoun, Philippe Lefaucheux, Thomas Tillocher, Rémi Dussart, Kumiko Yamazaki, Koichi Yatsuda, Jacques Faguet, Kaoru Maekawa
titre
Cryo atomic layer etching of SiO 2 by C F8 physisorption followed by Ar plasma
article
Applied Physics Letters, 2019, 115 (15), pp.153109. ⟨10.1063/1.5119033⟩
DOI
DOI : 10.1063/1.5119033
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auteur
Gaelle Antoun, Rémi Dussart, Thomas Tillocher, Philippe Lefaucheux, Christophe Cardinaud, Aurélie Girard, Shigeru Tahara, Kumiko Yamazaki, Koichi Yatsuda, Jacques Faguet, Kaoru Maekawa
titre
The role of physisorption in the cryogenic etching process of silicon
article
Japanese Journal of Applied Physics, 2019, 58 (SE), pp.SEEB03. ⟨10.7567/1347-4065/ab1639⟩
DOI
DOI : 10.7567/1347-4065/ab1639
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auteur
Sylvain Iséni, Ronan Michaud, Philippe Lefaucheux, Goran Sretenović, Volker Schulz-von Der Gathen, Remi Dussart
titre
On the validity of neutral gas temperature by emission spectroscopy in micro-discharges close to atmospheric pressure
article
Plasma Sources Science and Technology, 2019, 28 (6), pp.065003. ⟨10.1088/1361-6595/ab1dfb⟩
DOI
DOI : 10.1088/1361-6595/ab1dfb
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https://hal.science/hal-02117169/file/IOP_PSST-10.1088_1361-6595_ab1dfb_postprint.pdf BibTex

2018

auteur
Romain Chanson, Liping Zhang, Sergej Naumov, Yuri Mankelevich, Thomas Tillocher, Philippe Lefaucheux, Rémi Dussart, Stefan de Gendt, Jean-François de Marneffe
titre
Damage-free plasma etching of porous organo-silicate low-k using micro-capillary condensation above −50 °C
article
Scientific Reports, 2018, 8, pp.1886. ⟨10.1038/s41598-018-20099-5⟩
DOI
DOI : 10.1038/s41598-018-20099-5
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auteur
Mukesh Kulsreshath, Alexane Vital, Philippe Lefaucheux, Christophe Sinturel, Thomas Tillocher, Marylène Vayer, Mohamed Boufnichel, Rémi Dussart
titre
High aspect ratio etched sub-micron structures in silicon obtained by cryogenic plasma deep-etching through perforated polymer thin films
article
Micro and Nano Engineering, 2018, 1, pp.42-48. ⟨10.1016/j.mne.2018.10.007⟩
DOI
DOI : 10.1016/j.mne.2018.10.007
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auteur
Edouard Laudrel, Thomas Tillocher, Yannick Meric, Philippe Lefaucheux, Bertrand Boutaud, Rémi Dussart
titre
The effect of SF 6 addition in a Cl 2 /Ar inductively coupled plasma for deep titanium etching
article
Journal of Micromechanics and Microengineering, 2018, 28 (5), ⟨10.1088/1361-6439/aaafe7⟩
DOI
DOI : 10.1088/1361-6439/aaafe7
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auteur
Ronan Michaud, Valentin Felix, Arnaud Stolz, Olivier Aubry, Philippe Lefaucheux, Sebastian Dzikowski, Volker Schulz-von Der Gathen, Lawrence Overzet, Rémi Dussart
titre
Direct current microhollow cathode discharges on silicon devices operating in argon and helium
article
Plasma Sources Science and Technology, 2018, 27 (2), pp.025005. ⟨10.1088/1361-6595/aaa870⟩
DOI
DOI : 10.1088/1361-6595/aaa870
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2017

auteur
Joe Sakai, Erwann Luais, Jérôme Wolfman, Thomas Tillocher, Remi Dussart, Francois Tran-Van, Fouad Ghamouss
titre
Cryogenic plasma-processed silicon microspikes as a high-performance anode material for lithium ion-batteries
article
Journal of Applied Physics, 2017, 122 (15), pp.155103. ⟨10.1063/1.4997713⟩
DOI
DOI : 10.1063/1.4997713
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https://hal.science/hal-01686032/file/Sakai_Cryogenic%20plasma-processed%20silicon%20microspikes%20as%20a%20anode%20in%20Li%20battery_JAPIAU_vol_122_iss_15_155103_1_am.pdf BibTex
auteur
Stefan Tinck, Thomas Tillocher, Violetta Georgieva, Rémi Dussart, Erik Neyts, Annemie Bogaerts
titre
Concurrent effects of wafer temperature and oxygen fraction on cryogenic silicon etching with SF6/O2 plasmas
article
Plasma Processes and Polymers, 2017, 14 (9), pp.1700018. ⟨10.1002/ppap.201700018⟩
DOI
DOI : 10.1002/ppap.201700018
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auteur
Alexane Vital, Marylène Vayer, Thomas Tillocher, Remi Dussart, Mohamed Boufnichel, Christophe Sinturel
titre
Morphology control in thin films of PS: PLA homopolymer blends by dip-coating deposition
article
Applied Surface Science, 2017, 393, pp.127-133. ⟨10.1016/j.apsusc.2016.09.151⟩
DOI
DOI : 10.1016/j.apsusc.2016.09.151
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https://hal.science/hal-01561189/file/2017%20Main%20Vital%20revised.pdf BibTex

2016

auteur
Valentin Felix, Philippe Lefaucheux, Olivier Aubry, Judith Golda, Volker Schulz-von Der Gathen, Lawrence J. Overzet, Remi Dussart
titre
Origin of microplasma instabilities during DC operation of silicon based microhollow cathode devices
article
Plasma Sources Science and Technology, 2016, 25, pp.025021. ⟨10.1088/0963-0252/25/2/025021⟩
DOI
DOI : 10.1088/0963-0252/25/2/025021
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auteur
Wassim Kafrouni, Thomas Tillocher, Julien Ladroue, Philippe Lefaucheux, Mohamed Boufnichel, Pierre Ranson, Rémi Dussart
titre
Parametric study of STiGer etching process in order to reduce extended formation of scalloping defects on the sidewalls of silicon submicron trenches
article
Vacuum, 2016, 133, pp.90. ⟨10.1016/j.vacuum.2016.08.019⟩
DOI
DOI : 10.1016/j.vacuum.2016.08.019
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auteur
Stefan Tinck, Thomas Tillocher, Remi Dussart, Erik Neyts, Annemie Bogaerts
titre
Elucidating the effects of gas flow rate on an SF6 inductively coupled plasma and on the silicon etch rate, by a combined experimental and theoretical investigation
article
Journal of Physics D: Applied Physics, 2016, 49 (38), pp.385201. ⟨10.1088/0022-3727/49/38/385201⟩
DOI
DOI : 10.1088/0022-3727/49/38/385201
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auteur
Liping Zhang, Jean-Francois de Marneffe, Floriane Leroy, Philippe Lefaucheux, Thomas Tillocher, Remi Dussart, Kaoru Maekawa, Koichi Yatsuda, Christian Dussarrat, Andy Goodyear, Cooke Mike, Stefan de Gendt, Mikhail Baklanov
titre
Mitigation of plasma-induced damage in porous low-k dielectrics by cryogenic precursor condensation
article
Journal of Physics D: Applied Physics, 2016, 49 (17), pp.175203. ⟨10.1088/0022-3727/49/17/175203⟩
DOI
DOI : 10.1088/0022-3727/49/17/175203
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2015

auteur
Nicolas Gosset, Mohamed Boufnichel, Emilie Bahette, Walid Khalfaoui, Rami Ljazouli, Virginie Grimal, Remi Dussart
titre
Single and multilayered materials processing by argon ion beam etching: study of ion angle incidence and defect formation
article
Journal of Micromechanics and Microengineering, 2015, 25, pp.095011. ⟨10.1088/0960-1317/25/9/095011⟩
DOI
DOI : 10.1088/0960-1317/25/9/095011
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auteur
Floriane Leroy, Liping Zhang, Thomas Tillocher, Koichi Yatsuda, Kaoru Maekawa, Eichi Nishimura, Philippe Lefaucheux, Jean-Francois de Marneffe, Mikhail Baklanov, Remi Dussart
titre
Cryogenic etching processes applied to porous low-k materials using SF6/C4F8 plasmas
article
Journal of Physics D: Applied Physics, 2015, 48, pp.435202. ⟨10.1088/0022-3727/48/43/435202⟩
DOI
DOI : 10.1088/0022-3727/48/43/435202
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auteur
Stefan Tinck, Thomas Tillocher, Rémi Dussart, Annemie Bogaerts
titre
Cryogenic etching of silicon with SF6 inductively coupled plasmas: a combined modelling and experimental study
article
Journal of Physics D: Applied Physics, 2015, 48, pp.155204. ⟨10.1088/0022-3727/48/15/155204⟩
DOI
DOI : 10.1088/0022-3727/48/15/155204
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auteur
Alexane Vital, Marylène Vayer, Christophe Sinturel, Thomas Tillocher, Philippe Lefaucheux, Remi Dussart, Mohamed Boufnichel
titre
Modification of poly(styrene) thin films and enhancement of cryogenic plasma etching resistance by ruthenium tetroxide vapor staining
article
Polymer, 2015, 76, pp.123-130. ⟨10.1016/j.polymer.2015.08.062⟩
DOI
DOI : 10.1016/j.polymer.2015.08.062
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auteur
Alexane Vital, Marylène Vayer, Christophe Sinturel, Thomas Tillocher, Philippe Lefaucheux, Remi Dussart
titre
Polymer masks for structured surface and plasma etching
article
Applied Surface Science, 2015, 332, pp.237. ⟨10.1016/j.apsusc.2015.01.040⟩
DOI
DOI : 10.1016/j.apsusc.2015.01.040
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2014

auteur
Pierre-Antoine Cormier, A. Balhamri, Anne-Lise Thomann, Remi Dussart, Nadjib Semmar, Thomas Lecas, R. Snyders, Stephanos Konstantinidis
titre
Titanium oxide thin film growth by magnetron sputtering: Total energy flux and its relationship with the phase constitution
article
Surface and Coatings Technology, 2014, Vol 254 (2014), Volume 254, 15 September 2014, Pages 291-297. ⟨10.1016/j.surfcoat.2014.06.037⟩
DOI
DOI : 10.1016/j.surfcoat.2014.06.037
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auteur
Remi Dussart, Thomas Tillocher, Philippe Lefaucheux, Mohamed Boufnichel
titre
Plasma cryogenic etching of silicon: from the early days to today's advanced technologies
article
Journal of Physics D: Applied Physics, 2014, pp.123001. ⟨10.1088/0022-3727/47/12/123001⟩
DOI
DOI : 10.1088/0022-3727/47/12/123001
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auteur
Mariem El Mokh, Amaël Caillard, Nadjib Semmar, Rémi Dussart, Thomas Lecas, Anne-Lise Thomann
titre
Energy Transferred From a Hot Nickel Target During Magnetron Sputtering
article
IEEE Transactions on Plasma Science, 2014, pp.Plasma Science, IEEE Transactions on (Volume:PP Issue: 99 ). ⟨10.1109/TPS.2014.2338742⟩
DOI
DOI : 10.1109/TPS.2014.2338742
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auteur
Judith Golda, Mukesh Kulsreshath, H Boettner, Valentin Felix, Remi Dussart, V Schulz-von Der Gathen
titre
Circular Emission and Destruction Patterns on a Silicon-Based Microdischarge Array
article
IEEE Transactions on Plasma Science, 2014, 42 (10), pp.2646. ⟨10.1109/TPS.2014.2337657⟩
DOI
DOI : 10.1109/TPS.2014.2337657
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auteur
Mukesh Kulsreshath, Judith Golda, V. Schulz-von Der Gathen, Remi Dussart
titre
Width dependent interaction of trench-like microdischarges arranged in sub-arrays on a single silicon based chip
article
Plasma Sources Science and Technology, 2014, 23, pp.045012. ⟨10.1088/0963-0252/23/4/045012⟩
DOI
DOI : 10.1088/0963-0252/23/4/045012
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auteur
Thomas Tillocher, Philippe Lefaucheux, Bertrand Boutaud, Remi Dussart
titre
Alternated process for the deep etching of titanium
article
Journal of Micromechanics and Microengineering, 2014, 24, pp.075021. ⟨10.1088/0960-1317/24/7/075021⟩
DOI
DOI : 10.1088/0960-1317/24/7/075021
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2013

auteur
Pierre-Antoine Cormier, Anne Lise Thomann, Vincent Dolique, A. Balhamri, Remi Dussart, Nadjib Semmar, Thomas Lecas, Pascal Brault, R. Snyders, Stephanos Konstantinidis
titre
IR emission from the target during plasma magnetron sputter deposition
article
Thin Solid Films, 2013, pp.547(2013) 44-49. ⟨10.1016/j.tsf.2013.07.025⟩
DOI
DOI : 10.1016/j.tsf.2013.07.025
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auteur
P.-A. Cormier, A.-L. Thomann, Vincent Dolique, A. Balhamri, R. Dussart, N. Semmar, T. Lecas, P. Brault, R. Snyders, S. Konstantinidis
titre
IR emission from the target during plasma magnetron sputter deposition
article
Thin Solid Films, 2013, 545, pp.44-49. ⟨10.1016/j.tsf.2013.07.025⟩
DOI
DOI : 10.1016/j.tsf.2013.07.025
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https://hal.in2p3.fr/in2p3-00874718/file/IRemissionMagnetron2013_Final.pdf BibTex
auteur
Pierre-Antoine Cormier, A. Balhamri, Anne-Lise Thomann, Remi Dussart, Nadjib Semmar, Jacky Mathias, R. Snyders, Stephanos Konstantinidis
titre
Measuring the energy flux at the substrate position during magnetron sputter deposition processes
article
Journal of Applied Physics, 2013, 113, pp.013305. ⟨10.1063/1.4773103⟩
DOI
DOI : 10.1063/1.4773103
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auteur
M. K. Kulsreshath, N. Sadeghi, L. Schwaederle, T. Dufour, L. J. Overzet, P. Lefaucheux, R. Dussart
titre
Ignition and extinction phenomena in helium micro hollow cathode discharges
article
Journal of Applied Physics, 2013, 114 (24), pp.243303. ⟨10.1063/1.4858418⟩
DOI
DOI : 10.1063/1.4858418
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https://hal.sorbonne-universite.fr/hal-01303176/file/Pre-Print-014.pdf BibTex
auteur
Nasreddine Mekkakia Maaza, Remi Dussart, Thomas Tillocher, Philippe Lefaucheux, Pierre Ranson
titre
A novel amorphization-etch alternating process for Si(100)
article
Journal of Micromechanics and Microengineering, 2013, 23, pp.045023. ⟨10.1088/0960-1317/23/4/045023⟩
DOI
DOI : 10.1088/0960-1317/23/4/045023
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auteur
Anne-Lise Thomann, Pierre-Antoine Cormier, Vincent Dolique, Nadjib Semmar, Remi Dussart, Thomas Lecas, Blandine Courtois, Pascal Brault
titre
Energy transferred to the substrate surface during reactive magnetron sputtering of aluminum in Ar/O2 atmosphere
article
Thin Solid Films, 2013, 539, pp.88. ⟨10.1016/j.tsf.2013.05.075⟩
DOI
DOI : 10.1016/j.tsf.2013.05.075
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https://hal.science/hal-00839010/file/THOMANN_TSF_revised_version_mai_2013.pdf BibTex
auteur
Liping Zhang, Rami Ljazouli, Philippe Lefaucheux, Thomas Tillocher, Remi Dussart, Yuri Mankelevich, Jean-Francois de Marneffe, Stefan de Gendt, Mikhail Baklanov
titre
Low Damage Cryogenic Etching of Porous Organosilicate Low-k Materials Using SF6/O2/SiF4
article
ECS Journal of Solid State Science and Technology, 2013, 2 (6), pp.N131. ⟨10.1149/2.001306jss⟩
DOI
DOI : 10.1149/2.001306jss
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2012

auteur
Sergey Abolmasov, Pierre-Antoine Cormier, A. Torres Rios, Remi Dussart, Nadjib Semmar, Anne-Lise Thomann, Pere Roca I Cabarrocas
titre
Probing dusty-plasma/surface interactions with a heat flux microsensor
article
Applied Physics Letters, 2012, pp.100, 1, 011601. ⟨10.1063/1.3674290⟩
DOI
DOI : 10.1063/1.3674290
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auteur
Thomas Defforge, Gaël Gautier, Thomas Tillocher, Remi Dussart, François Tran-Van
titre
Elaboration of high aspect ratio monocrystalline silicon suspended nanobridges by low temperature alkaline treatment of dry etched trenches
article
Journal of Vacuum Science & Technology A, 2012, 30 (1), pp.010601. ⟨10.1116/1.3665217⟩
DOI
DOI : 10.1116/1.3665217
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auteur
Mukesh Kulsreshath, Laurent Schwaederlé, Lawrence J. Overzet, Philippe Lefaucheux, Julien Ladroue, Thomas Tillocher, Olivier Aubry, M. Woytasik, G. Schelcher, Remi Dussart
titre
Study of dc micro-discharge arrays made in silicon using CMOS compatible technology
article
Journal of Physics D: Applied Physics, 2012, 45, pp.285202. ⟨10.1088/0022-3727/45/28/285202⟩
DOI
DOI : 10.1088/0022-3727/45/28/285202
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auteur
Laurent Schwaederlé, Mukesh Kulsreshath, Lawrence J. Overzet, Philippe Lefaucheux, Thomas Tillocher, Remi Dussart
titre
Breakdown study of dc silicon micro-discharge devices
article
Journal of Physics D: Applied Physics, 2012, 45, pp.065201. ⟨10.1088/0022-3727/45/6/065201⟩
DOI
DOI : 10.1088/0022-3727/45/6/065201
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https://hal.science/hal-00667649/file/Article.pdf BibTex
auteur
Liping Zhang, Rami Ljazouli, Philippe Lefaucheux, Thomas Tillocher, Remi Dussart, Yuri Mankelevich, Jean-Francois de Marneffe, Stefan de Gendt, Mikhail Baklanov
titre
Damage Free Cryogenic Etching of a Porous Organosilica Ultralow-k Film
article
Electrochemical and Solid-State Letters, 2012, 2 (2), pp.N5. ⟨10.1149/2.007302ssl⟩
DOI
DOI : 10.1149/2.007302ssl
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2011

auteur
Thomas Defforge, Xi Song, Gaël Gautier, Thomas Tillocher, Remi Dussart, Sébastien Kouassi, François Tran-Van
titre
Scalloping removal on DRIE via using low concentrated alkaline solutions at low temperature
article
Sensors and Actuators A: Physical , 2011, 170 (1-2), pp.114. ⟨10.1016/j.sna.2011.05.028⟩
DOI
DOI : 10.1016/j.sna.2011.05.028
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BibTex
auteur
Corinne Y. Duluard, Pierre Ranson, Laurianne E. Pichon, Jeremy Pereira, El-Houcine Oubensaid, Philippe Lefaucheux, Michel Puech, Remi Dussart
titre
Alternating SiCl4/O2 passivation steps with SF6 etch steps for silicon deep etching
article
Journal of Micromechanics and Microengineering, 2011, 21, pp.065015
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auteur
Thomas Tillocher, Wassim Kafrouni, Julien Ladroue, Philippe Lefaucheux, Mohamed Boufnichel, Pierre Ranson, Remi Dussart
titre
Optimization of submicron deep trench profiles with the STiGer cryoetching process: reduction of defects
article
Journal of Micromechanics and Microengineering, 2011, 21, pp.085005. ⟨10.1088/0960-1317/21/8/085005⟩
DOI
DOI : 10.1088/0960-1317/21/8/085005
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2010

auteur
L Bedra, a L Thomann, N Semmar, R Dussart, J Mathias
titre
Highly sensitive measurements of the energy transferred during plasma sputter deposition of metals
article
Journal of Physics D: Applied Physics, 2010, 43 (6), pp.65202. ⟨10.1088/0022-3727/43/6/065202⟩
DOI
DOI : 10.1088/0022-3727/43/6/065202
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https://hal.science/hal-00569757/file/PEER_stage2_10.1088%252F0022-3727%252F43%252F6%252F065202.pdf BibTex
auteur
Pierre-Antoine Cormier, Marc Stahl, Anne-Lise Thomann, Rémi Dussart, Matthias Wolter, Nadjib Semmar, Jacky Mathias, Holger Kersten
titre
On the measurement of energy fluxes in plasmas using a calorimetric probe and a thermopile sensor
article
Journal of Physics D: Applied Physics, 2010, 43 (46), pp.465201. ⟨10.1088/0022-3727/43/46/465201⟩
DOI
DOI : 10.1088/0022-3727/43/46/465201
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https://hal.science/hal-00569747/file/PEER_stage2_10.1088%252F0022-3727%252F43%252F46%252F465201.pdf BibTex
auteur
Thierry Dufour, Lawrence J. Overzet, Remi Dussart, L. C. Pitchford, N Sadeghi, P Lefaucheux, M Kulsreshath, P Ranson
titre
Experimental study and simulation of a micro-discharge with limited cathode area
article
The European Physical Journal D : Atomic, molecular, optical and plasma physics, 2010, 60, pp.565-574. ⟨10.1140/epjd/e2010-00273-6⟩
DOI
DOI : 10.1140/epjd/e2010-00273-6
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https://hal.sorbonne-universite.fr/hal-01303159/file/03_Scientific-Document.pdf BibTex
auteur
Remi Dussart, Lawrence J. Overzet, P Lefaucheux, Thierry Dufour, M Kulsreshath, Monali Mandra, Thomas Tillocher, O Aubry, S Dozias, P Ranson, M Goeckner
titre
Integrated micro-plasmas in silicon operating in helium
article
The European Physical Journal D : Atomic, molecular, optical and plasma physics, 2010, 60, pp.601-608. ⟨10.1140/epjd/e2010-00272-7⟩
DOI
DOI : 10.1140/epjd/e2010-00272-7
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https://hal.sorbonne-universite.fr/hal-01303160/file/04_Scientific-Document.pdf BibTex
auteur
Remi Dussart, Lawrence J. Overzet, Philippe Lefaucheux, Thierry Dufour, Mukesh Kulsreshath, Monali Mandra, Thomas Tillocher, Olivier Aubry, Sébastien Dozias, Pierre Ranson, Jeong Bong Lee, Matthew Goeckner
titre
Integrated micro-plasmas in silicon operating in helium
article
The European Physical Journal D : Atomic, molecular, optical and plasma physics, 2010, 60, pp.601. ⟨10.1140/epjd/e2010-00272-7⟩
DOI
DOI : 10.1140/epjd/e2010-00272-7
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https://arxiv.org/pdf/1604.08821 BibTex
auteur
Lawrence J. Overzet, D. Jung, Monali Mandra, Matthew Goeckner, Thierry Dufour, Remi Dussart, Philippe Lefaucheux
titre
RF impedance measurements of DC atmospheric micro-discharges
article
The European Physical Journal D : Atomic, molecular, optical and plasma physics, 2010, 60, pp.449-454. ⟨10.1140/epjd/e2010-00274-5⟩
DOI
DOI : 10.1140/epjd/e2010-00274-5
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https://hal.sorbonne-universite.fr/hal-01303158/file/Pre-Print-003.pdf BibTex
auteur
Julien Ladroue, Aline Meritan, Mohamed Boufnichel, Philippe Lefaucheux, Pierre Ranson, Remi Dussart
titre
Deep GaN etching by inductively coupled plasma and induced surface defects
article
Journal of Vacuum Science & Technology A, 2010, 28 (5), pp.1226. ⟨10.1116/1.3478674⟩
DOI
DOI : 10.1116/1.3478674
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auteur
Lawrence J. Overzet, D. Jung, Monali Mandra, Matthew Goeckner, Thierry Dufour, Remi Dussart, Philippe Lefaucheux
titre
RF impedance measurements of DC atmospheric micro-discharges
article
The European Physical Journal D : Atomic, molecular, optical and plasma physics, 2010, 60, pp.449. ⟨10.1140/epjd/e2010-00274-5⟩
DOI
DOI : 10.1140/epjd/e2010-00274-5
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https://arxiv.org/pdf/1604.08794 BibTex

2009

auteur
Corinne Y. Duluard, Pierre Ranson, Laurianne E. Pichon, El-Houcine Oubensaid, Jeremy Pereira, Philippe Lefaucheux, Michel Puech, Remi Dussart
titre
Neutral species in inductively coupled SF6/SiCl4 plasmas
article
Journal of Physics D: Applied Physics, 2009, 42, pp.115206
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auteur
El-Houcine Oubensaid, Corinne Y. Duluard, Laurianne E. Pichon, B. Morillon, Mohamed Boufnichel, Philippe Lefaucheux, Remi Dussart, Pierre Ranson
titre
Cryogenic etching of n-type silicon with p+ doped walls with the TGZM process through the Al/Si eutectic alloy
article
Microelectronic Engineering, 2009, 86, pp.2262. ⟨10.1016/j.mee.2009.04.002⟩
DOI
DOI : 10.1016/j.mee.2009.04.002
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auteur
El-Houcine Oubensaid, Corinne Y. Duluard, Laurianne E. Pichon, Jeremy Pereira, Mohamed Boufnichel, Philippe Lefaucheux, Remi Dussart, Pierre Ranson
titre
Effect of the addition of SF6 and N2 in inductively coupled SiCl4 plasma for GaN etching
article
Semiconductor Science & Technology, 2009, 24, pp.075022. ⟨10.1088/0268-1242/24/7/075022⟩
DOI
DOI : 10.1088/0268-1242/24/7/075022
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auteur
Jeremy Pereira, Laurianne E. Pichon, Remi Dussart, Christophe Cardinaud, Corinne Y. Duluard, El-Houcine Oubensaid, Philippe Lefaucheux, Mohamed Boufnichel, Pierre Ranson
titre
In situ x-ray photoelectron spectroscopy analysis of SiOxFy passivation layer obtained in a SF6/O2 cryoetching process
article
Applied Physics Letters, 2009, 94, pp.071501. ⟨10.1063/1.3085957⟩
DOI
DOI : 10.1063/1.3085957
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2008

auteur
Thierry Dufour, Remi Dussart, P Lefaucheux, P Ranson, Lawrence J. Overzet, M Mandra, J.-B Lee, M Goeckner
titre
Effect of limiting the cathode surface on direct current microhollow cathode discharge in helium
article
Applied Physics Letters, 2008, 93 (071508), ⟨10.1063/1.2966144͔⟩
DOI
DOI : 10.1063/1.2966144͔
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https://hal.sorbonne-universite.fr/hal-01303157/file/01_Scientific-Document.pdf BibTex
auteur
Thierry Dufour, Remi Dussart, Philippe Lefaucheux, Pierre Ranson, Lawrence J. Overzet, Monali Mandra, Jeong B. Lee, Matthew Goeckner
titre
Effect of limiting the cathode surface on direct current microhollow cathode discharge in helium
article
Applied Physics Letters, 2008, 93, pp.071508. ⟨10.1063/1.2966144⟩
DOI
DOI : 10.1063/1.2966144
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https://arxiv.org/pdf/1911.12422 BibTex
auteur
Corinne Y. Duluard, Remi Dussart, Thomas Tillocher, Laurianne E. Pichon, Philippe Lefaucheux, Michel Puech, Pierre Ranson
titre
SO2 passivating chemistry for silicon cryogenic deep etching
article
Plasma Sources Science and Technology, 2008, 17, pp.045008. ⟨10.1088/0963-0252/17/4/045008⟩
DOI
DOI : 10.1088/0963-0252/17/4/045008
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auteur
Remi Dussart, Anne-Lise Thomann, Laurianne E. Pichon, Larbi Bedra, Nadjib Semmar, Philippe Lefaucheux, Jacky Mathias, Yves Tessier
titre
Direct measurements of the energy flux due to chemical reactions at the surface of a silicon sample interacting with a SF6 plasma
article
Applied Physics Letters, 2008, 93, pp.131502. ⟨10.1063/1.2995988⟩
DOI
DOI : 10.1063/1.2995988
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https://hal.science/hal-00336392/file/Dussart_APL_2008.pdf BibTex
auteur
Remy Dussart, Anne-Lise Thomann, Laurianne E. Pichon, Larbi Bedra, Nadjib Semmar, Philippe Lefaucheux, Yves Tessier, Jacky Mathias
titre
Direct measurements of the energy flux due to chemical reactions at the surface of silicon sample interacting with SF6 plasma
article
Applied Physics Letters, 2008, 93, pp.131502
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BibTex
auteur
Thomas Tillocher, Remi Dussart, Lawrence J. Overzet, Xavier Mellhaoui, Philippe Lefaucheux, Mohamed Boufnichel, Pierre Ranson
titre
Two Cryogenic Processes Involving SF6, O2, and SiF4 for Silicon Deep Etching
article
Journal of The Electrochemical Society, 2008, 155 (3), pp.D187. ⟨10.1149/1.2826280⟩
DOI
DOI : 10.1149/1.2826280
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2007

auteur
Remi Dussart, Xavier Mellhaoui, Thomas Tillocher, Philippe Lefaucheux, Mohamed Boufnichel, Pierre Ranson
titre
The passivation layer formation in the cryo-etching plasma process
article
Microelectronic Engineering, 2007, 84, pp.1128. ⟨10.1016/j.mee.2007.01.048⟩
DOI
DOI : 10.1016/j.mee.2007.01.048
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BibTex
auteur
Thomas Tillocher, Remi Dussart, Xavier Mellhaoui, Philippe Lefaucheux, Mohamed Boufnichel, Pierre Ranson
titre
Silicon cryo-etching of deep holes
article
Microelectronic Engineering, 2007, 84, pp.1120. ⟨10.1016/j.mee.2007.01.148⟩
DOI
DOI : 10.1016/j.mee.2007.01.148
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2006

auteur
Anne Lise Thomann, Nadjib Semmar, Rémi Dussart, Jacky Mathias, Vladislav Lang
titre
Diagnostic system for plasma/surface energy transfer characterization
article
Review of Scientific Instruments, 2006, 77 (2), pp.033501-6
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auteur
Emmanuel Odic, Alice Goldman, Max Goldman, Marielle Dhainaut, Rémi Dussart
titre
CURRENT DISTRIBUTION OF AC SURFACE DISCHARGES AND ASSOCIATED CHEMISTRY
article
Journal of Electrostatics, 2006, 64 (7-9), pp.477-484
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https://centralesupelec.hal.science/hal-00221383/file/OdicJE06.pdf BibTex
auteur
Thomas Tillocher, Philippe Lefaucheux, Xavier Mellhaoui, Remi Dussart, Pierre Ranson, Mohamed Boufnichel, Lawrence J. Overzet
titre
Oxidation threshold in silicon etching at cryogenic temperatures
article
Journal of Vacuum Science & Technology A, 2006, 24 (4), pp.1073. ⟨10.1116/1.2210946⟩
DOI
DOI : 10.1116/1.2210946
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https://hal.science/hal-00365909/file/preprint_thomas_13072005.pdf BibTex