Raman Investigation of Heavily Al Doped 4H-SiC Layers Grown by CVD
Résumé
Raman Investigation of Heavily Al Doped 4H-SiC Layers Grown by CVD
Sandrine Juillaguet : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-01936666
Soumis le : mardi 27 novembre 2018-15:14:35
Dernière modification le : vendredi 1 mars 2024-18:20:03